吉川工業アールエフセミコン株式会社では、ウエハテストからファイナルテスト、バックエンドまでの全て工程において お客様のニーズにあった豊富なラインナップにて、半導体業界の期待に応えています！
| 用途 | メーカー | 機種名 | 主な仕様 |
|---|---|---|---|
| ロジック テスタ |
ＡＤＶＡＮＴＥＳＴ | T3347A | 周波数=40MHz、I/O=256pin、2ST、STE=1MW、SBM=256MB、ALPG、ADC、IDDQ等ｵﾌﾟｼｮﾝ有 |
| T6575 | 周波数=125MHz、I/O=512pin ADDA、IDDQ、SCAN、ALPG | ||
| T6577 | 周波数=125MHz、I/O=1024pin VAFG/D、BBWG/D、SCAN、ALPG | ||
| T2000 | 周波数=500MHz、I/O=1024pin、LCDPS、DPS500ｍA、PMU32、RC5V192 | ||
| 横河電機 | TS6000 | 周波数=20MHz、I/O=512pin SCAN、ALPG | |
| TS600 | 周波数=20MHz、I/O=512pin SCAN、ALPG | ||
| TS6000H(AL9740) | 周波数=125MHz、I/O=512pin or 768pin SCAN、ALPG、DPSTH=8ch | ||
| 安藤電気 | AL9737 | 周波数=100MHz、I/O=512pin ALPG、SPU |
| 用途 | メーカー | 機種名 | 主な仕様 |
|---|---|---|---|
| メモリテスタ | ＡＤＶＡＮＴＥＳＴ | T5377 | 周波数=143MHz/286MHz、PPS256/ST、DRV2048pin/ST、I/O1280pin/ST、LevelDRV256pin/ST、256同測/ST、FM128Gb |
| 用途 | メーカー | 機種名 | 主な仕様 |
|---|---|---|---|
| アナログテスタ （ミックスドシグナル） |
横河電機 | TS1000 | 周波数=5MHz、I/O=96pin(中継BOX：48pin) TIM、HRG/D、UVI、WFG/D |
| ＡＤＶＡＮＴＥＳＴ | V93000 | TH-Class:C 100/50MHz I/O=768pin DC=64ch Wave Scale MX | |
| HEWLETT PACKARD | HP94000/9494/ 9492B/9493B |
周波数=32MHz、I/O=64/128pin AWG/DIGITIZER | |
| シバソク | WL25 | Perpin DC : 512pin , 周波数=5MHz , 16同測 , HighPower V/I : ±60V,±10A | |
| テラダイン | Catalyst | Video Options : 4sets | |
| その他 | YTEC | S100 |
周波数=100MHZ、 I/O=512pin（最大） 4SLOT Type 128同測
|
| ＡＤＶＡＮＴＥＳＴ | EVA100 |
周波数=100MHz、IO=64pin モジュール構成 : GCMx16ch + AVIx24ch + SCAPx8ch + DMx64ch + LFx8ch + HFx4ch |
| 用途 | メーカー | 機種名 | 主な仕様 |
|---|---|---|---|
| プローバ | 東京精密 | UF190A/UF190B | ウェハサイズΦ5”,Φ6”,Φ8” 50℃～150℃ ＊ｲﾝｸﾏｰｸ専用 |
| UF200 | ウェハサイズΦ5”,Φ6”,Φ8” 50℃～150℃ クリーニングユニットΦ5 | ||
| UF200A | ウェハサイズΦ5”,Φ6”,Φ8” 50℃～150℃ クリーニングユニットΦ5 | ||
| FP200A |
|
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| UF3000 | ウェハサイズΦ8”,Φ12” 50℃～150℃ or -40℃～150℃ クリーニングユニット150×150 クリーニングブラシ | ||
| UF3000EX-e | ウェハサイズΦ8”,Φ12” -55℃ ～ 200℃ or -40℃～150℃ クリーニングユニット150×150 クリーニングブラシ | ||
| UF2000 | ウェハサイズΦ5”,Φ6”,Φ8” -55℃～200℃ クリーニングユニット150×150 クリーニングブラシ | ||
| AP3000 | ウェハサイズΦ8”,Φ12” -55℃ ～ 200℃ クリーニングユニット110×160 クリーニングブラシ | ||
| 東京エレクトロン | P-12XLn/P-12XLn+ |
ウェハサイズΦ8”,Φ12” 25℃～150℃ or -40℃～150℃クリーニングユニット230×155 クリーニングブラシ |
| 用途 | メーカー | 機種名 | 主な仕様 |
|---|---|---|---|
| ハンドラ | エプソン | NS-8080 |
QFP/SOP/TSOP/PGA/BGA/PLCC/PGA/QFN:□3～□50（リードピッチ0.40mm～） ソケットピッチ：8個測（40x60) 1,2,3,4個測：(80x60),(60x80),(60x60),(80x80) 常温制御無 高温制御(50℃～130℃±3℃） スループット（8300UPH/8個測時besteffort) |
| NS-8080W |
QFP/SOP/TSOP/PGA/BGA/PLCC/PGA/QFN:□3～□50（リードピッチ0.40mm～） ソケットピッチ：8個測（40x60 / 60x60) 1,2,3,4個測：(80x60),(60x80),(60x60),(80x80) 常温制御無 高温制御(50℃～130℃±3℃） スループット（8200UPH/8個測時besteffort) |
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| テセック | HS2000 |
QFP/SOP/TSOP:□7～□32(4DUT時□7～□20） ＢＧＡ/ＱＦＮ:□4～□20 ソケットピッチ：（80mm/２DUTinline) or （40mm/４DUTinline) 常温制御無 高温制御:50℃～100℃±3℃,100℃～125℃±5℃ |
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| 9250-IH |
SOP(4.4mm幅） ソケットピッチ：4個測（シュートピッチ：50mm / ステーションピッチ：80mm) プラスチックスティック対象 高温設定(50℃～130℃±3℃） |
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| アピックヤマダ | A206x4 |
BGA/QFP/PLCC/LCC/SOP/SOJ/QFN:□3～□40(厚さ0.8mm～5mm/リードピッチ0.4mm～) ソケットピッチ：1,2,4個測（横：55mm or 60mm or 73.66mm or 80mm)（縦：40mm or 60mm) 高温試験(50℃～125℃±3℃） |
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| A206sp |
BGA/QFP/PLCC/LCC/SOP/SOJ/QFN:□3～□40(厚さ0.8mm～5mm/リードピッチ0.4mm～) ソケットピッチ：2個測（55mm or 60mm or 73.66mm or 80mm) 高温試験(50℃～125℃±3℃） |
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| SYNAX | SX2400 |
BAG/CSP/TSOP/QFP:□7～□40(厚さ0.6mm～5mm/リードピッチ0.4mm～/ボールピッチ0.5mm～) 1,2,4,8個測 低温モード(0℃～-55℃±3℃) 高温モード(50℃～150℃±3℃) |
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| SX1104H |
BGA/CSP/TSOP/QFP:□3～□38(厚さ0.6mm～5mm/リードピッチ0.4mm～） ソケットピッチ：2,4個測(横：60mm)(縦：60mm or 80mm) |
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| SX1255H |
QFP,V,S/TQFP/PLCC/SOJ/TSOP/BAG:□7～□40(リードピッチ0.5mm～) 2個測(縦：50mm) 高温モード(50℃～125℃±3℃) |
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| S9 |
BGA/CSP/TSOP/QFP/QFN:□3～□50(厚さ0.6mm～5mm/リードピッチ0.4mm～/ボールピッチ0.5mm～） ※コンタクトレイアウトなどにより制限あり 1,2,4,8個測 高温モード(50.0℃～90.0℃±2℃/90.1℃～130.0℃±3℃/130.1℃～150.0℃±5℃) |
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| S9PulsCC |
BGA/CSP/TSOP/QFP/QFN:□3～□50(厚さ0.6mm～5mm/リードピッチ0.4mm～/ボールピッチ0.5mm～） ※コンタクトレイアウトなどにより制限あり 1,2,4,8,16個測 高温モード(50.0℃～90.0℃±2℃/90.1℃～130.0℃±3℃/130.1℃～150.0℃±5℃) 低温モード（-40℃±2℃） |
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| ＡＤＶＡＮＴＥＳＴ | M4541A |
QFP/BGA/CSP:□5～□50(厚さ1.0mm～4.5mm) 1個測定時：□5～□50 2個測定(2×1)時：□5～□50 4個測定(2×2)時：□5～□35 4個測定(4×1)時：□5～□20 高温モード(50.0℃～90.0℃±2℃/90.1℃～125.0℃±3℃) |
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| M4741A |
QFP/BGA/CSP:□5～□50(厚さ1.0mm～4.5mm) 2個測定(2×1)時：□5～□50 4個測定(2×2)時：□5～□35 高温モード(50.0℃～90.0℃±2℃/90.1℃～125.0℃±3℃) |
| 用途 | メーカー | 機種名 | 主な仕様 |
|---|---|---|---|
| 無塵恒温器 （ベーク炉） |
エスペック | PVHC-231M PVHC-231 |
（外囲温度＋ 60）℃～＋ 350℃ |
| PVC-230 PVC-231 |
（外囲温度＋ 60）℃～＋ 200℃ | ||
| 恒温器 （ベーク炉） |
エスペック | ST-120 | （外囲温度＋ 20）℃～＋ 200℃ |
| PH-300 | （外囲温度＋ 20）℃～＋ 200℃ | ||
| トリマ | GSIJ | M435 | ウェハサイズΦ12” レーザー波長1065nm スポットサイズ1.5～2.7um 最大フィールドサイズ36×36mm 最大発振周波数50kHz |
| 高速針跡検査装置 | 東京エレクトロン | TELPADS | ウェハサイズΦ8”,Φ12” |
| 外観検査装置 | オリンパス | AL3100 | ウェハサイズΦ12” |
| 外観検査装置 | オリンパス | AL110-LMB86 | ウェハサイズΦ６”,Φ８” |
| ウエハクリーナー | ハーモテック | HWC-0812-11 | ウェハサイズΦ8”,Φ12” |
| スキャナー | ＩＣＯＳ | CI-T120 | QFP/BGA/QFN□3～□27 異物検査可能 スループット20000UPH(besteffort) |
| 安永 | LI-920 |
QFP、SOP ：3×3～30×30mm BGA、LGA､QFN：3×3～30×30mm |
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| バーイン | 藤田製作所 | FBS-1000 | ベクタメモリ4Kw 周波数5MHz ALPG,FPGA |
| IC自動挿抜機 | 藤田製作所 | BZ-5000TSW | QFP製品 バーインボード⇔JEDECトレイ IC移載 |
| 藤堂製作所 | TR-8000CHT-CS | QFP製品 バーインボード⇔JEDECトレイ IC移載 | |
| 外観検査テーピング装置 | PALMEC | W110 |
QFP/SOP/QFN/BGA:□4～□16 裏面リード傷検査・異物検査可能 トレイ to トレイ または、 トレイ to テープ |
| 藤堂製作所 | TTI-1200W |
SOP トレイ to テープ（エンボスキャリアテープ幅12mm～16mm / カバーテープ幅9.5mm～13.5mm) |
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| 永田精機 | NK8300 |
WLCSP用（８インチ） ウエハ to テープ(エンボスキャリアテープ幅8mm～12mm) トレイ to テープ(エンボスキャリアテープ幅8mm～12mm) |
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| NK9100 |
QFP/SOP トレイ to トレイ または、 トレイ to テープ(エンボスキャリアテープ幅8mm～16mm) |
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| 上野精機 | NLT20 |
SOP トレイ to テープ |
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| テープtoトレイ移載機 | PALMEC | RT-3000 | テープからトレイへの移載（アンテーピング）可能 |
| プローブカードチェッカー | RUDOLPH | PRVX3 | TS6000H(AL9740)用768pinカード対応 |
| 用途 | メーカー | 機種名 | 主な仕様 |
|---|---|---|---|
| バックグラインド装置 | 岡本工作機械製作所（株） | GNX200B | ６/８インチウエハ対応 |
| テープ張付機 | （株）タカトリ | ATM-1100G | ６/８インチウエハ対応 |
| テープ剥し機 | （株）タカトリ | ATRM-2300 | ６/８インチウエハ対応 |